Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni
Un’accurata osservazione della geometria tridimensionale di cricche e difetti è necessaria per lo studio dei meccanismi alla base del processo di danneggiamento. I metodi convenzionali utilizzati a questo scopo sono distruttivi o non possiedono una sufficiente risoluzione. Le tecniche di imaging che...
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| Main Authors: | , , |
|---|---|
| Format: | Article |
| Language: | English |
| Published: |
Gruppo Italiano Frattura
2013-04-01
|
| Series: | Fracture and Structural Integrity |
| Online Access: | https://www.fracturae.com/index.php/fis/article/view/89 |
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| _version_ | 1841562631883718656 |
|---|---|
| author | Francesca Cosmi Salvatore Scozzese Andrea Bernasconi |
| author_facet | Francesca Cosmi Salvatore Scozzese Andrea Bernasconi |
| author_sort | Francesca Cosmi |
| collection | DOAJ |
| description | Un’accurata osservazione della geometria tridimensionale di cricche e difetti è necessaria per lo
studio dei meccanismi alla base del processo di danneggiamento. I metodi convenzionali utilizzati a questo
scopo sono distruttivi o non possiedono una sufficiente risoluzione. Le tecniche di imaging che utilizzano la
luce di sincrotrone, ed in particolare la microtomografia (micro-CT) a raggi X, invece, uniscono i vantaggi di una
tecnica non distruttiva ad un’elevata risoluzione spaziale e risultano quindi particolarmente interessanti. Un
limite all’applicazione di questa tecnica è costituito dalla propensione della cricca a richiudersi una volta rimosso
il carico che ha provocato il danneggiamento, superabile attraverso l’impiego di un dispositivo in grado di
esercitare un carico di trazione durante l’acquisizione dei dati. Facendo riferimento al set-up sperimentale della
linea SYRMEP di Elettra, il sincrotrone di Trieste, e tralasciando per il momento i vincoli legati a pesi e
ingombri, è possibile pensare di inserire tra camera di ionizzazione e CCD una macchina per prove di trazione
mono-colonna commerciale, in grado di mantenere aperto il difetto per tutta la durata della tomografia. In
questo lavoro viene valutato l’impatto di questo vincolo sulla qualità finale delle ricostruzioni. |
| format | Article |
| id | doaj-art-3c52ab5739e14ac191a77a4e889fa30d |
| institution | Kabale University |
| issn | 1971-8993 |
| language | English |
| publishDate | 2013-04-01 |
| publisher | Gruppo Italiano Frattura |
| record_format | Article |
| series | Fracture and Structural Integrity |
| spelling | doaj-art-3c52ab5739e14ac191a77a4e889fa30d2025-01-03T00:46:14ZengGruppo Italiano FratturaFracture and Structural Integrity1971-89932013-04-0141310.3221/IGF-ESIS.13.02Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioniFrancesca Cosmi0Salvatore Scozzese1Andrea Bernasconi2Università degli Studi di TriesteUniversità degli Studi di TriestePolitecnico di MilanoUn’accurata osservazione della geometria tridimensionale di cricche e difetti è necessaria per lo studio dei meccanismi alla base del processo di danneggiamento. I metodi convenzionali utilizzati a questo scopo sono distruttivi o non possiedono una sufficiente risoluzione. Le tecniche di imaging che utilizzano la luce di sincrotrone, ed in particolare la microtomografia (micro-CT) a raggi X, invece, uniscono i vantaggi di una tecnica non distruttiva ad un’elevata risoluzione spaziale e risultano quindi particolarmente interessanti. Un limite all’applicazione di questa tecnica è costituito dalla propensione della cricca a richiudersi una volta rimosso il carico che ha provocato il danneggiamento, superabile attraverso l’impiego di un dispositivo in grado di esercitare un carico di trazione durante l’acquisizione dei dati. Facendo riferimento al set-up sperimentale della linea SYRMEP di Elettra, il sincrotrone di Trieste, e tralasciando per il momento i vincoli legati a pesi e ingombri, è possibile pensare di inserire tra camera di ionizzazione e CCD una macchina per prove di trazione mono-colonna commerciale, in grado di mantenere aperto il difetto per tutta la durata della tomografia. In questo lavoro viene valutato l’impatto di questo vincolo sulla qualità finale delle ricostruzioni.https://www.fracturae.com/index.php/fis/article/view/89 |
| spellingShingle | Francesca Cosmi Salvatore Scozzese Andrea Bernasconi Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni Fracture and Structural Integrity |
| title | Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni |
| title_full | Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni |
| title_fullStr | Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni |
| title_full_unstemmed | Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni |
| title_short | Studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone: impatto di un cono d’ombra sulla qualità finale delle ricostruzioni |
| title_sort | studio del danneggiamento mediante tomografia in luce del sincrotrone impatto di un cono d ombra sulla qualita finale delle ricostruzioni |
| url | https://www.fracturae.com/index.php/fis/article/view/89 |
| work_keys_str_mv | AT francescacosmi studiodeldanneggiamentomediantetomografiainlucedelsincrotroneimpattodiunconodombrasullaqualitafinaledellericostruzioni AT salvatorescozzese studiodeldanneggiamentomediantetomografiainlucedelsincrotroneimpattodiunconodombrasullaqualitafinaledellericostruzioni AT andreabernasconi studiodeldanneggiamentomediantetomografiainlucedelsincrotroneimpattodiunconodombrasullaqualitafinaledellericostruzioni |