APA (7th ed.) Citation

Moya, F., Lizarraga, L., Zeballos-Velásquez, E., Prieto, G., Asto, E., & Andía, M. Caracterización de muestras policristalinas para fines arqueológicos por cinemática de difracción de rayos X y refinamiento Rietveld. Instituto de Investigación de Física.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Moya, Frank, Luis Lizarraga, Elvira Zeballos-Velásquez, Gabriel Prieto, Esteban Asto, and Miguel Andía. Caracterización De Muestras Policristalinas Para Fines Arqueológicos Por Cinemática De Difracción De Rayos X Y Refinamiento Rietveld. Instituto de Investigación de Física.

MLA (9th ed.) Citation

Moya, Frank, et al. Caracterización De Muestras Policristalinas Para Fines Arqueológicos Por Cinemática De Difracción De Rayos X Y Refinamiento Rietveld. Instituto de Investigación de Física.